0.1℃精準(zhǔn)掌控！皓天鑫芯片專(zhuān)用可程式高低溫一體機(jī)突破研發(fā)瓶頸

一、行業(yè)痛點(diǎn)：傳統(tǒng)設(shè)備難以滿(mǎn)足高精度測(cè)試需求

在半導(dǎo)體、電子元件及新能源等領(lǐng)域，產(chǎn)品可靠性測(cè)試對(duì)溫度控制精度提出了嚴(yán)苛要求。傳統(tǒng)高低溫試驗(yàn)箱普遍存在**±0.5℃~±1℃的溫漂問(wèn)題，無(wú)法滿(mǎn)足芯片老化、材料穩(wěn)定性測(cè)試等場(chǎng)景對(duì)0.1℃級(jí)精準(zhǔn)控溫**的需求。此外，溫變速率慢、能耗高、操作復(fù)雜等痛點(diǎn)，也制約了測(cè)試效率與成本控制。

二、皓天鑫突破：0.1℃精準(zhǔn)控溫技術(shù)解析

皓天鑫團(tuán)隊(duì)歷經(jīng) 3 年攻關(guān)，成功研發(fā)芯片專(zhuān)用可程式高低溫一體機(jī)，通過(guò)三大核心技術(shù)實(shí)現(xiàn)行業(yè)應(yīng)用：

納米級(jí) PID 算法：結(jié)合模糊控制與自適應(yīng)調(diào)節(jié)，動(dòng)態(tài)補(bǔ)償環(huán)境干擾，確保溫度穩(wěn)定性達(dá)**±0.1℃**；

雙循環(huán)制冷系統(tǒng)：采用環(huán)保冷媒與高效換熱器，實(shí)現(xiàn) **-70℃~180℃超寬溫區(qū)覆蓋 **，溫變速率高達(dá)15℃/min；

多點(diǎn)均溫技術(shù)：內(nèi)置 多組高精度傳感器，配合氣流優(yōu)化設(shè)計(jì)，箱內(nèi)溫度均勻性≤±0.3℃。

三、六大功能亮點(diǎn)，重新定義測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)

智能可程式控制

支持 100 組獨(dú)立程序、1000 段步驟編輯，自動(dòng)循環(huán)測(cè)試，大幅減少人工干預(yù)。

快速溫變能力

從 - 40℃到 150℃僅需 12 分鐘，滿(mǎn)足汽車(chē)電子、航空航天等高加速壽命測(cè)試需求。

低功耗設(shè)計(jì)

采用變頻技術(shù)與保溫層優(yōu)化，能耗較傳統(tǒng)設(shè)備降低 40%，年節(jié)省電費(fèi)超 20 萬(wàn)元。

安全無(wú)憂(yōu)運(yùn)行

具備過(guò)溫保護(hù)、漏電監(jiān)測(cè)、壓縮機(jī)過(guò)載預(yù)警等 12 重防護(hù)機(jī)制，保障人員與設(shè)備安全。

模塊化設(shè)計(jì)

支持溫濕度擴(kuò)展、真空接口定制，適配芯片封裝、鋰電池等多樣化測(cè)試場(chǎng)景。

遠(yuǎn)程監(jiān)控系統(tǒng)

搭載物聯(lián)網(wǎng)模塊，可通過(guò)手機(jī) APP 實(shí)時(shí)查看運(yùn)行數(shù)據(jù)、故障報(bào)警，實(shí)現(xiàn)無(wú)人值守。

四、典型應(yīng)用場(chǎng)景

芯片測(cè)試：模擬極-端溫變環(huán)境，驗(yàn)證 CPU、GPU 的可靠性與壽命。

電子元件：電容、電阻的溫度特性分析，確保產(chǎn)品在 - 40℃~85℃寬溫域下的穩(wěn)定性。

新能源領(lǐng)域：動(dòng)力電池?zé)崾Э販y(cè)試、BMS 系統(tǒng)耐高溫驗(yàn)證。

材料研發(fā)：高分子材料、半導(dǎo)體封裝的熱膨脹系數(shù)研究。

五、為什么選擇皓天鑫？

技術(shù)實(shí)力：擁有 28 項(xiàng)技術(shù)研發(fā)，與中科院微電子所建立聯(lián)合實(shí)驗(yàn)室。

品質(zhì)保障：核心部件（壓縮機(jī)、傳感器）均選用歐美進(jìn)口品牌，整機(jī)通過(guò) ISO 9001、CE 認(rèn)證。

服務(wù)網(wǎng)絡(luò)：全國(guó) 24 小時(shí)響應(yīng)，提供 “設(shè)備 - 軟件 - 培訓(xùn)" 一站式解決方案。

六、結(jié)語(yǔ)：以精度驅(qū)動(dòng)創(chuàng)新

皓天鑫芯片專(zhuān)用可程式高低溫一體機(jī)憑借0.1℃級(jí)精準(zhǔn)控溫與全場(chǎng)景適配能力，為電子行業(yè)可靠性測(cè)試樹(shù)立新品質(zhì)。無(wú)論是研發(fā)實(shí)驗(yàn)室還是量產(chǎn)線，我們的設(shè)備都能助您縮短測(cè)試周期、降低試錯(cuò)成本、提升產(chǎn)品競(jìng)爭(zhēng)力。

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